Rasterelektronenmikroskop und EDX

Mit Hilfe von rasterelektronenmikroskopischen Aufnahmen (REM) in Verbindung mit der energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDX) kann das Gefüge und die Elementzusammensetzung von Materialen bewertet werden.

Die Betrachtung unter dem Rasterelektronenmikroskop ermöglicht eine höhere Auflösung und größere Tiefenschärfen als die Anwendung von lichtmikroskopischen Untersuchungen. Durch die hohe Bildauflösung kann die Phasenzusammensetzung des Zementsteins oder der Beschichtung visuell bis in den Nanometerbereich untersucht werden.